Чешун, В.М.Кравчук, Р.В.Стецюк, О.І.Cheshun, V.M.Kravchuk, R.V.Stetsiuk, O.I.2019-12-202019-12-202018Кравчук, Р.В. Функціональний підхід в діагностуванні цифрових процесорів і елементів пам'яті [Текст] / Р. В. Кравчук, О. І. Стецюк, В. М. Чешун // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2018. – №2. – С. 106-110.https://elar.khmnu.edu.ua/handle/123456789/8248В роботі наведено результати аналізу характерних тенденцій розвитку технологій виготовлення компонентів і виробів цифрової електроніки з точки зору технічної діагностики. Обґрунтовано актуалізацію методів функціонального діагностування через зменшення достовірності імовірнісного діагностування і зростання складності реалізації тестового. Доведено доцільність застосування при перевірці сучасних цифрових пристроїв методів функціонального діагностування, орієнтованих на мікропроцесорні пристрої. Наведено загальні принципи діагностування цифрових процесорів і елементів пам’яті.The emergence of new types of digital components extends the capacity for building digital devices and systems based on them, but also necessitates the selection and improvement of methods for their diagnosis. In the article presents the classification of methods for diagnosing digital devices, analyzes their disadvantages and advantages in modern conditions. It is proved, that the effectiveness of probabilistic methods of diagnosis decreases because of the increasing complexity of discrete components. Methods of test diagnostics lose relevance due to the long duration and cost of tests developing. The most up-to-date requirements are the methods of functional diagnostics. The explore of digital devices as objects of functional diagnosis has shown that their complexity is constantly increasing and therefore they should be considered as microprocessor devices with using appropriate diagnostic methods. To develop the tests, it is proposed to apply structural and logic-functional models of digital devices. Structural models determine the composition of nodes for control. Logically-functional models are using for choose of their verification modes. The method of representation of memory elements by such models and principles of their verification is described. Also, based on the chosen mode of presentation, the general principles of functional diagnostics of the digital processor are described to. When constructing the logical-functional models of the processor, the control signals, the system of commands and data sets are taken into account, the coverage matrix is used to select the method of verification. The given description of the functional diagnostics principles for microprocessors and memory elements is the basis for the development of algorithms and tools for testing digital devices as multifunctional microprocessor systems.ukтехнічна діагностикафункціональне діагностуванняцифрові пристроїtechnical diagnosticsfunctional diagnosticsdigital devicesСтаття04.896:004.05 4