(Хмельницький національний університет, 2018) Чешун, В.М.; Кравчук, Р.В.; Стецюк, О.І.; Cheshun, V.M.; Kravchuk, R.V.; Stetsiuk, O.I.
В роботі наведено результати аналізу характерних тенденцій розвитку технологій виготовлення компонентів і виробів цифрової електроніки з точки зору технічної діагностики. Обґрунтовано актуалізацію методів функціонального діагностування через зменшення достовірності імовірнісного діагностування і зростання складності реалізації тестового. Доведено доцільність застосування при перевірці сучасних цифрових пристроїв методів функціонального діагностування, орієнтованих на мікропроцесорні пристрої. Наведено загальні принципи діагностування цифрових процесорів і елементів пам’яті.