(Хмельницький національний університет, 2014) Самусєв, К.В.; Чешун, В.М.; Samusev, K.V.; Cheshun, V.M.
В статті запропоновано математичну модель, яка враховує основні особливості організації процесу
діагностування сучасних цифрових пристроїв з елементами підвищеного ступеня інтеграції за умов можливості
виникнення в їх структурі одиночних та кратних несправностей статичного або динамічного типу. Модель
орієнтована на систематизацію даних і уточнення умов задач тестопридатного синтезу цифрових вузлів.