Моделі динамічних несправностей дискретних інтегральних компонентів комплементарної логіки
Вантажиться...
Дата
2016
Автори
Чешун, Віктор Миколайович
Лєнков, Сергій Васильович
Прокопчук, Сергій Олексійович
Охрамович, Михайло Миколайович
Шевченко, Валерій Віталійович
Cheshun, V.M.
Lyenkov, S.V.
Prokopchuk, S.O.
Ohramovych, M.M.
Shevchenko, V.V.
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Військовий інститут Київського національного університету імені Тараса Шевченка
Анотація
Проведений аналіз тенденцій розвитку цифрових інтегральних компонентів та засобів їх діагностування показує, що тривалий час основна увага приділялася технологіям на біполярних транзисторах і найбільш актуальною вважалася транзисторно-транзисторна логіка з діодами Шотткі, а елементи комплементарної логіки були на другорядних позиціях. В роботі розглянуто умови актуалізації комплементарної технології виготовлення дискретних інтегральних компонентів та наслідки зміни тенденцій для технічної діагностики цифрових пристроїв і систем, вказані причини збільшення питомої ваги несправностей динамічного типу, надано класифікацію зазначених несправностей компонентів комплементарної логіки та опис характерних ознак їх прояву, запропоновано математичні моделі типових несправностей динамічного типу. Математичні моделі базуються на урахуванні чотирьох можливих станів контрольованих сигналів (логічний 0 і 1, Z-стан і невизначений стан) та часових параметрів їх зміни, призначені для застосування при формуванні множини та моделей несправних станів комплементарних компонентів і побудованих з їх використанням цифрових об’єктів діагностування, розробки методів та алгоритмів діагностування, визначення вимог до технічних засобів діагностування.
The analysis of trends in digital integrated components development and means of diagnostics shows, that for a long time the focus has been given to technologies based on bipolar transistors and the transistor-transistor logic with Schottky diodes was most actual, elements with complementary logic were in secondary positions. The article contains analysis of conditions of popularization complementary technology in manufacturing of discrete integrated components and effects of changes in trends for diagnostics of digital devices and systems, describes the reasons for increasing the share of dynamic type faults, includes classification of these faults for components with complementary logic and description of the characteristic features of their display, mathematical models of typical dynamic type faults. The mathematical models are based on considering four possible states of controlled signals (logic 0 and 1, Zstate and the uncertain state) and their change time parameters, proposed for use in the formation of sets and models for states of complementary components and digital objects of diagnostics with faults, for development of diagnostics methods and algorithms, for determine the technical requirements to diagnostic systems.
Проведен анализ тенденций развития цифровых интегральных компонентов и средств их диагностики показывает, что длительное время основное внимание уделялось технологиям на биполярных транзисторах и наиболее актуальной считалась транзисторно-транзисторная логика с диодами Шоттки, а элементы комплементарной логики были на второстепенных позициях. В работе рассмотрены условия актуализации комплементарной технологии изготовления дискретных интегральных компонентов и последствия изменения тенденций для диагностики цифровых устройств и систем, указаны причины увеличения удельного веса неисправностей динамического типа, предоставлено классификацию указанных неисправностей компонентов комплементарной логики и описание характерных признаков их проявления, предложены математические модели типовых неисправностей динамического типа. Математические модели базируются на учете четырех возможных состояний контролируемых сигналов (логический 0 и 1, Z-состояние и неопределенное состояние) и временных параметров их изменения, предназначены для применения при формировании множества и моделей неисправных состояний комплементарных компонентов и построенных с их использованием цифровых объектов диагностирования, разработки методов и алгоритмов диагностирования, определения требований к техническим средствам диагностики.
The analysis of trends in digital integrated components development and means of diagnostics shows, that for a long time the focus has been given to technologies based on bipolar transistors and the transistor-transistor logic with Schottky diodes was most actual, elements with complementary logic were in secondary positions. The article contains analysis of conditions of popularization complementary technology in manufacturing of discrete integrated components and effects of changes in trends for diagnostics of digital devices and systems, describes the reasons for increasing the share of dynamic type faults, includes classification of these faults for components with complementary logic and description of the characteristic features of their display, mathematical models of typical dynamic type faults. The mathematical models are based on considering four possible states of controlled signals (logic 0 and 1, Zstate and the uncertain state) and their change time parameters, proposed for use in the formation of sets and models for states of complementary components and digital objects of diagnostics with faults, for development of diagnostics methods and algorithms, for determine the technical requirements to diagnostic systems.
Проведен анализ тенденций развития цифровых интегральных компонентов и средств их диагностики показывает, что длительное время основное внимание уделялось технологиям на биполярных транзисторах и наиболее актуальной считалась транзисторно-транзисторная логика с диодами Шоттки, а элементы комплементарной логики были на второстепенных позициях. В работе рассмотрены условия актуализации комплементарной технологии изготовления дискретных интегральных компонентов и последствия изменения тенденций для диагностики цифровых устройств и систем, указаны причины увеличения удельного веса неисправностей динамического типа, предоставлено классификацию указанных неисправностей компонентов комплементарной логики и описание характерных признаков их проявления, предложены математические модели типовых неисправностей динамического типа. Математические модели базируются на учете четырех возможных состояний контролируемых сигналов (логический 0 и 1, Z-состояние и неопределенное состояние) и временных параметров их изменения, предназначены для применения при формировании множества и моделей неисправных состояний комплементарных компонентов и построенных с их использованием цифровых объектов диагностирования, разработки методов и алгоритмов диагностирования, определения требований к техническим средствам диагностики.
Опис
Ключові слова
тестова діагностика, цифрові пристрої, комплементарна логіка, математична модель, test diagnostics, digital devices, complementary logic, mathematical model
Бібліографічний опис
Чешун, В. М. Моделі динамічних несправностей дискретних інтегральних компонентів комплементарної логіки [Текст] / В. М. Чешун, С. В. Лєнков, С. О. Прокопчук, М. М. Охрамович, В. В. Шевченко // Збірник наукових праць Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. – Київ : ВІКНУ, 2016. – Вип. 54. – C. 79-87.